英国ABI-BM8300多功能集成电路及电路板故障诊断产品综述
数字集成电路测试的高级测试模块(ATM)
提供了1个数字集成电路功能测试模块,其具有64个量测通道,可提供多种的量测功能.这些通道可提供全面性故障诊断能力,包括数字集成电路功能测试(在线/离线测试),集成电路接脚的连接状态和电压值的量测,并连同在无电源供给的情形下使用的VI曲线的测试功能.
该模块是升级产品,是数字集成电路测试的高级测试模块,系统提供信息更全面,更准确.测试条件更丰富,仿真测试输入条件电压电流可以根据需要-10V~+10V之间自己定义,检测输出的电平也可以自己定义.6500模块可以更好的检测测试库以外的元器件,实现电路板仿真测试更加方便快捷.
模拟集成电路测试功能模块(AICT)
在模拟集成电路测试仪中允许模拟集成电路和分立集成电路进行功能测试.所有常见的模拟集成电路皆可以测试,系统会依照集成电路在PCB上的电路型态来作功能测试,不需要编辑程序或参考电路图.在该模块中还包括了完整的V-I曲线测试功能,电路板或集成电路可在无电源供给的情形下,得到清楚易懂的图形化测试结果.2500模块包含标准模拟器件参数测试库。
数字可调式电源供应器模块(VPS)
此模块可提供集成电路或电路板在进行测试时所必要的电源.其具有三组可调式电源输出,并同时具有过电压及过载保护功能.
Digital IC Test 数字集成电路测试功能
具64个量测通道 (64通道X1组模块).八组输出隔离信号.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.并可针对数字逻辑位准进行调整,另外可自动定位集成电路接脚及电路状态比对功能.
Analogue IC Test 模拟集成电路测试功能
具有24组测试通道及外加一组的分离集成电路测试信道.内建集成电路数据库可测量模拟放大器、比较器、光耦合器、晶体管、二极管及特殊功能的集成电路.可针对模拟集成电路进行功能测、连接状态测试及电压测量.并具有自动定位集成电路接脚及电路状比对功能.
Digital V-I Test 数字式V-I曲线测试功能
具64量测通道(64通道X1个模块).可调整测量信号电压范围.针对数字集成电路可达到有效的测量结果.
Analogue V-I Test 模拟式V-I曲线测试功能
具有24量测通道及外加二组独立测量通道.其具有可调频率、可调电压、可调输出阻抗及选择测量波形功能.并可选择波形显示模式:V-I、V-T及I-T三种显示模式.二组同步可变脉宽的信号输出.内建测量线路补偿功能.具有外接盒可供选配.
Matrix V-I 矩阵式V-I测试功能
具有24组矩阵式的测量通道.单一波形多重显示的方式，并可直接进行测量波形的比对功能,并以条状图的方式来显示各通道信号的差异百分比.
Graphical Test Generator 数字时序编辑功能
具有64个信号通道可供编辑数字时序信号,每个通道可设定输出、输入及双向状态.并可读取数字向量信号、并且储存之后再进行比对.
Short Locator 短路电阻测量功能
具有三段低电阻测量范围,可以图示及声音来判断目前短路的位置.
Variable Power Supply 可调型电源输出功能
逻辑电源输出的可调电压范围为2.5V到6V并具有过电压跳脱功能.另外有可调式的正负电源输出,其可电压可调范围为-24V到+24V.其输出电流能力可达1A.
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